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2024-11-05
+2024-10-23
+2022-01-21
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HTIM-1001型高溫絕緣電阻測試儀根據歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統，實現了是以往產品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，能不受測量環境影響進行穩定測量，并且運用在產線中實現高速測量。可實現絕緣材料
HTRC-800型高溫導電材料電阻率測試系統是一款用于測量材料電阻，電導率的專用設備，采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱為一體的專用的高溫測試系統，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用于碳
PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統通過采用四探針雙位組合測量技術，將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換，進行兩次電測量，其最后計算結果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素所引起的，對測量結果的不利影響。因而在測試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。這種動態地對以上不利因素的自動修正，
JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀，是一款能夠應用于*材料測試的多功能復合型精密阻抗分析儀，該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具，可以測試粉末，液體，塊體等多種不同類型的樣品。常溫下測試數據豐富，高溫下測試數據穩定，無漂移。是一款兼顧中頻率的精密阻抗分析儀。在陶瓷及*材料生產中和科研院校廣泛使用。
JKZC-HRE01型絕緣材料體電阻和表面電阻超高阻測試儀是一款即可測試絕緣材料超高阻，又可以測試微電流的精密測量裝置，用了大規模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準確度高。能夠直接顯示電阻的高阻計和電流值，量限從0.01×104Ω ～1×1018 Ω，電流測量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機內測試電壓為10/50/100/250/500/1000V任意可調。本儀器具有精度高、顯示迅速、性
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