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JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統
JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統是一款專用介電常數介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1...
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SMDR-1600型1600℃超高溫導熱儀
SMDR-1600型超高溫導熱儀|導熱系數測試儀主要測試含碳耐火材料，石墨氈，碳氈，石墨等靜壓碳棒等低導熱系數材料的導熱系數。該儀器基于熱流計法的原理，兼配GB/T10295等相關國標要求，測試溫度高...
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SMA-100A型飽和磁性分析儀
在科研、國防和生產實踐中，經常需要對各種材料磁性進行研究和檢測，特別是急需有適應性強、靈敏度高、準確可靠、使用方便的磁測儀器。隨著科學的發展，對儀器又提出了測量自動化智能化的要求，SMA-100A型飽...
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TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀
TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀，即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測量，也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量，是研究薄膜材...
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新D33測試儀兼容搭載D33空間夾具
ZJ-3型壓電測試儀（準靜態d33測量儀）、PVDF壓電薄膜測試儀,D33系數共面夾具，D33系數空間夾具關鍵詞：壓電,陶瓷材料,高分子,d33/d15，共面夾具，空間夾具
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HTIM-1001A高溫電阻測試儀
HTIM-1001A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重...
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高溫電阻測試儀I電阻率I電阻三合一
HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重...
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常用的壓電材料及D33測試儀（PZT/PVDF）
常用的壓電材料及D33測試儀（PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF）常用的壓電材料及測試儀器有以下幾種（PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF）：1.鉛鋯鈦酸鋇（PZT）：PZT是常用的...
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BKTEM-DX型熱電性能測試平臺
BKTEM-DX型熱電性能測試平臺是一種用于熱電器件（TEGs）溫度相關轉換效率評估的測量系統。該模塊位于熱板和冷板之間，其中熱板連接到可調節加熱器，冷板連接到恒溫控制的液冷散熱器。通過集成的電機自動...
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PVDF/聚合物、（TRFE）薄膜電暈極化裝置
PZT-JH30/1壓電復合極化裝置主要用于30KV以下壓電陶瓷或PVDF等薄壓電材料的極化處理，廣泛應用于高校及從事壓電材料研究或生產的科研及生產單位，可以直接放置在實驗桌上進行操作，方便安全。
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****航天大學高分子壓電薄膜中試線方案
PVDF-600型連續式壓電薄膜極化裝置是一款生產型極化裝置主要用于PVDF壓電薄膜的極化處理，該設備采用先進電極，的處理工藝，可以快速均勻的處理PVDF成批生產極化。是從事壓電PVDF薄膜的批量連續...
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新增高分子,d33，d15，D15圓管，薄膜拉伸
ZJ-3型壓電測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量任意取向壓電單晶以...
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