描述：JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規(guī)探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正面和背面同時扎針以實現(xiàn)各種 光/電性能測試需求的測試，或背面點針，正面收集光線等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。

JKZC-DSH系列雙面探針臺

|產(chǎn)品概要

JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規(guī)探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正面和背面同時扎針以實現(xiàn)各種 光/電性能測試需求的測試，或背面點針，正面收集光線等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。此設備在激光器,LD/LED/PD的光強/波長測試等 方面得到了廣泛運用。如果您的產(chǎn)品也有雙面點針,或者背面點針的需求，此款產(chǎn)品。

|技術特點

•雙層設計，可正反面同時點針，可同時加載DC和RF信號；

•卡盤大手柄雙驅動，省時，省力，省心，可升級360度快速移動；

•加厚級剛性金屬框架結構設計,內部防震技術，結構性能穩(wěn)定。

IJKZC-DSH系列探針臺詳細參數(shù)

搭配產(chǎn)品/半導體參數(shù)分析儀

我們經(jīng)過近10年的發(fā)展,在測試儀器與探針臺的搭配方面具備十分 豐富的經(jīng)驗。半導體參數(shù)分析儀方面，我們和是德科技(Keysight)、泰克(Tektronix)、概倫電子(PRIMARIUS)等公司的半導體參數(shù)分析儀有過多次搭配經(jīng)驗，系列型號有Keysight B1500A、Keith ley 4200A-SCS、PRIMARIUS FS-Pro等,并為用戶提供半導體參數(shù)分析 儀與探針臺集成測試方案和服務。

搭配產(chǎn)品/矢量網(wǎng)絡分析儀

依靠與儀器設備廠商和設備集成經(jīng)銷商所保持良好的合作關系，我司可為用戶提供是德科技(Keysight)、中電思儀(Ceyear)等公司的網(wǎng)絡分析儀和模塊，有Keysight E5063A/E5072A/E5061B/E5080B ENA、Keysight(N522x/3x/4xB) PNA、Keysight N5290A/ N5291A、Ceyear 3762A/B/C-S、Ceyear 3671C/D/E等,各系列型號的矢量網(wǎng)絡 分析儀和毫米波網(wǎng)絡分析儀，涵蓋不同測量頻率范圍、性能和功能，并 為用戶提供網(wǎng)絡分析儀與探針臺集成測試方案和服務,具備豐富的測 試經(jīng)驗。

搭配產(chǎn)品/其他類型源表

在其它類型源表方面，比如tek2450,tek2600,keysight2900,普賽斯S300,鐵電分析儀，各類示波器，各類電源，頻譜儀等等都有多年的搭配經(jīng)驗。